- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 21/95 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
Détention brevets de la classe G01N 21/95
Brevets de cette classe: 3767
Historique des publications depuis 10 ans
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22
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| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| KLA-Tencor Corporation | 2550 |
412 |
| KLA Corporation | 1400 |
277 |
| ASML Netherlands B.V. | 7149 |
164 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5040 |
131 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 138729 |
113 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 40583 |
86 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 579 |
60 |
| Applied Materials, Inc. | 17720 |
46 |
| Tokyo Electron Limited | 12111 |
46 |
| Nova Ltd. | 160 |
42 |
| Onto Innovation Inc. | 353 |
33 |
| Unity Semiconductor | 57 |
32 |
| The Boeing Company | 19909 |
31 |
| Samsung Display Co., Ltd. | 32745 |
25 |
| Camtek Ltd. | 102 |
25 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4304 |
24 |
| NuFlare Technology, Inc. | 805 |
23 |
| Screen Holdings Co., Ltd. | 2638 |
23 |
| Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10694 |
20 |
| Omni Medsci, Inc. | 34 |
20 |
| Autres propriétaires | 2134 |