- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 21/95 - Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
Détention brevets de la classe G01N 21/95
Brevets de cette classe: 4281
Historique des publications depuis 10 ans
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95
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| KLA-Tencor Corporation | 2524 |
408 |
| KLA Corporation | 1788 |
334 |
| ASML Netherlands B.V. | 7732 |
172 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 153573 |
145 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5646 |
136 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 47211 |
107 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 645 |
74 |
| Applied Materials, Inc. | 19999 |
67 |
| Tokyo Electron Limited | 13513 |
62 |
| Nova Ltd. | 190 |
48 |
| Onto Innovation Inc. | 373 |
43 |
| Unity Semiconductor | 65 |
37 |
| Samsung Display Co., Ltd. | 37753 |
31 |
| The Boeing Company | 20094 |
31 |
| Camtek Ltd. | 97 |
30 |
| Hamamatsu Photonics K.K. | 4595 |
28 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3210 |
25 |
| Femtometrix, Inc. | 43 |
23 |
| NuFlare Technology, Inc. | 907 |
23 |
| Omni Medsci, Inc. | 37 |
23 |
| Autres propriétaires | 2434 |