- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/153 - Dispositions électronoptiques ou ionoptiques pour la correction de défauts d'images, p. ex. stigmateurs
Détention brevets de la classe H01J 37/153
Brevets de cette classe: 514
Historique des publications depuis 10 ans
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10
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5629 |
82 |
| ASML Netherlands B.V. | 7710 |
74 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1993 |
52 |
| FEI Company | 1034 |
37 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 157 |
32 |
| JEOL Ltd. | 613 |
32 |
| NuFlare Technology, Inc. | 907 |
32 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 171 |
26 |
| KLA Corporation | 1781 |
16 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1255 |
12 |
| KLA-Tencor Corporation | 2524 |
10 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 643 |
6 |
| Technische Universiteit Delft | 758 |
6 |
| Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | 1198 |
5 |
| Kioxia Corporation | 10704 |
5 |
| International Business Machines Corporation | 62148 |
3 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 47071 |
3 |
| Axcelis Technologies, Inc. | 427 |
3 |
| CEOS Corrected Electron Optical Systems GmbH | 10 |
3 |
| IMS Nanofabrication GmbH | 59 |
3 |
| Autres propriétaires | 72 |