- Sections
- H - électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/28 - Microscopes électroniques ou ioniques; Tubes à diffraction d'électrons ou d'ions avec faisceaux de balayage
Détention brevets de la classe H01J 37/28
Brevets de cette classe: 2917
Historique des publications depuis 10 ans
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191
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188
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181
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269
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257
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271
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283
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264
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239
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15
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| 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5040 |
575 |
| ASML Netherlands B.V. | 7149 |
341 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 2018 |
251 |
| FEI Company | 894 |
217 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 579 |
104 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1171 |
104 |
| JEOL Ltd. | 560 |
92 |
| KLA-Tencor Corporation | 2550 |
84 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 111 |
72 |
| KLA Corporation | 1400 |
64 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2810 |
48 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 323 |
46 |
| NuFlare Technology, Inc. | 805 |
43 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 152 |
41 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 124 |
35 |
| Hitachi, Ltd. | 15220 |
29 |
| Applied Materials, Inc. | 17720 |
28 |
| Fractilia, LLC | 26 |
23 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 138729 |
20 |
| Technische Universiteit Delft | 689 |
18 |
| Autres propriétaires | 682 |