- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/28 - Microscopes électroniques ou ioniquesTubes à diffraction d'électrons ou d'ions avec faisceaux de balayage
Détention brevets de la classe H01J 37/28
Brevets de cette classe: 3153
Historique des publications depuis 10 ans
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5
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| 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 | 2025 | 2026 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5508 |
603 |
| ASML Netherlands B.V. | 7615 |
411 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1995 |
251 |
| FEI Company | 1003 |
244 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 622 |
109 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1239 |
108 |
| JEOL Ltd. | 604 |
98 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 154 |
91 |
| KLA-Tencor Corporation | 2528 |
84 |
| KLA Corporation | 1692 |
79 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3117 |
63 |
| NuFlare Technology, Inc. | 888 |
48 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 155 |
45 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 285 |
42 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 123 |
35 |
| Hitachi, Ltd. | 15745 |
32 |
| Applied Materials, Inc. | 19391 |
31 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 149838 |
24 |
| Fractilia, LLC | 27 |
24 |
| Technische Universiteit Delft | 749 |
19 |
| Autres propriétaires | 712 |