- Sections
- H - Électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/285 - Microscopes à émission, p. ex. microscopes à émission de champ
Détention brevets de la classe H01J 37/285
Brevets de cette classe: 171
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 5846 |
25 |
| FEI Company | 1052 |
16 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 11023 |
6 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 48302 |
6 |
| ASML Netherlands B.V. | 7925 |
6 |
| Scienta Omicron AB | 20 |
5 |
| The Regents of the University of California | 20745 |
4 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 676 |
4 |
| Ebara Corporation | 2323 |
4 |
| CAMECA Instruments, Inc. | 18 |
4 |
| IMEC VZW | 1812 |
4 |
| Institut National des Sciences Appliquees de Rouen (insa) | 28 |
4 |
| JEOL Ltd. | 621 |
4 |
| KLA-Tencor Corporation | 2518 |
4 |
| Universite de Rouen Normandie | 124 |
4 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 157719 |
3 |
| Hitachi, Ltd. | 16094 |
3 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 156 |
3 |
| Atomnaut, Inc. | 5 |
3 |
| KLA Corporation | 1849 |
3 |
| Autres propriétaires | 56 |