- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/225 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p. ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques
Détention brevets de la classe G01N 23/225
Brevets de cette classe: 676
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Technologies Corporation | 1986 |
124 |
| Hitachi High-Tech Corporation | 5969 |
58 |
| FEI Company | 1062 |
45 |
| KLA-Tencor Corporation | 2517 |
22 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 688 |
14 |
| Hitachi High-Tech Analysis Corporation | 286 |
13 |
| ASML Netherlands B.V. | 8019 |
12 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1296 |
12 |
| Applied Materials, Inc. | 20579 |
11 |
| Shimadzu Corporation | 6372 |
10 |
| HORIBA, Ltd. | 892 |
10 |
| Hitachi, Ltd. | 16206 |
9 |
| JFE Steel Corporation | 7632 |
9 |
| Advantest Corporation | 1670 |
7 |
| KLA Corporation | 1879 |
7 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 159029 |
6 |
| The Regents of the University of California | 20902 |
6 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 3370 |
6 |
| Ebara Corporation | 2356 |
6 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 122 |
6 |
| Autres propriétaires | 283 |